Speaker
Daniel Többens
(Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie (HZB))
Description
Multiple Edge Anomalous Diffraction (MEAD) was used to determine the cation order of Cu2FeSnS4, Cu2GaGeS4, Cu2ZnSnSe4, Cu2ZnSiSe4 and Cu2ZnGeSe4 quaternary chalcogenide semiconductors, which crystallize in either kesterite, stannite or wurtz-kesterite type structure.
Primary author
Daniel Többens
(Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie (HZB))
Co-author
Prof.
Susan Schorr
(Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie)